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CMY-410落射三目正置金相顯微鏡 芯片檢測(cè)顯微鏡

產(chǎn)品介紹

 CMY-410正置金相顯微鏡配有大移動(dòng)范圍的載物臺(tái)、落射照明器、平場(chǎng)消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時(shí)配有偏光裝置，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等及紡織纖維、化學(xué)顆粒的分析研究。總放大倍數(shù)：50X-800X

性能特點(diǎn)： 

• 1、采用大工作臺(tái)，適合大工件的檢查
• 2、采用大視野目鏡和長(zhǎng)距平場(chǎng)物鏡，視野寬闊，視場(chǎng)平坦,成像清晰
• 3、配置了落射照明裝置、視場(chǎng)光欄和孔徑光欄、照明均勻可調(diào)。同時(shí)配有偏光裝置
• 4、三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時(shí)可100%通光，可連接多種攝像裝置

技術(shù)參數(shù)

可選購(gòu)件