首頁 > 顯微鏡 > 金相顯微鏡 > CM120BD研究級12寸大平臺半導體檢查顯微鏡


CM120BD研究級12寸大平臺半導體檢查顯微鏡 采用明暗場半復消物鏡,配置12寸大平臺,帶快速移動裝置,配置有偏光裝置

SKU:

產(chǎn)品介紹

 產(chǎn)品概述

研究級12寸大平臺半導體檢查顯微鏡CM120BD廣泛應用于芯片/晶圓/LCD,粒子爆破檢查等行業(yè)使用。采用半復消技術,集明場,暗場及偏光等多種照明方式,任何觀察都能呈現(xiàn)清晰銳利的顯微圖像,其微分干涉效果可與進口品牌相媲美。用戶可根據(jù)實際應用進行功能選擇,是工業(yè)檢測的有效工具。特別是針對線路板切片測量,晶圓檢測,金相材料,高分子材料等尺寸較大的樣器進行分析檢測,本機配備了偏振系統(tǒng)可做偏光檢測,在半導體和PCB檢測中,可消除雜光,細節(jié)更加清晰。同時可以選配DIC干涉附件插入DlC棱鏡,可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術可以使物體表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果,大幅提高圖像對比度,特別適合觀察導電粒子。

性能特點

1、采用明暗場半復消物鏡,成像清晰。

2、配置12寸大平臺,帶快速移動裝置。

3、配置有偏光裝置,適合觀察高反光材料的表面;

技術參數(shù)

 顯微鏡參數(shù)

序號

名稱

技術參數(shù)

1

平場目鏡

正像大場高眼點目鏡PL10X/25mm

2

物鏡

無限遠長工作距明場半復消色差金相物鏡2.5X NA0.08 WD9.2 (選購)

無限遠長工作距明暗場半復消色差金相物鏡5X NA0.15 WD15

無限遠長工作距明暗場半復消色差金相物鏡10X NA0.30 WD8.4

無限遠長工作距明暗場半復消色差金相物鏡20X NA0.40 WD11.9

無限遠長工作距明暗場半復消色差金相物鏡50X NA0.75 WD3.0

無限遠長工作距明暗場半復消色差金相物鏡100X NA0.90 WD1.0(選購

3

光學放大倍數(shù)

50X-500X(選購100倍物鏡后放大倍數(shù)25-1000X

4

數(shù)碼放大倍數(shù)

75-3000X(搭配1200萬相機及100倍物鏡,顯示器22英寸情況下)

5

觀察頭

鉸鏈三通觀察筒,瞳距調節(jié):50mm~76mm,兩檔分光比雙目:三目=1000

6

轉換器

5孔明暗場物鏡轉換器(帶DIC插槽).

7

調焦機構

反射用機架, 低手位粗微同軸調焦機構。粗調行程35mm,微調精度0.001mm。帶有防止下滑的調節(jié)松緊裝置和隨機上限位裝置。

8

載物臺

12英寸載物臺,平臺面積 760*430mm,玻璃臺面310*418mm,移動行程:300mmX300mm機械平臺,X、Y方向同軸調節(jié);含快速移動裝置

9

晶圓轉臺

12寸通用晶圓轉臺(選購)

10

偏光組件

起偏鏡插板,360°旋轉式檢偏鏡插板

11

反射照明系統(tǒng)

明暗場反射照明器,帶可變孔徑光闌,視場光闌,中心可調,帶濾色片插槽,帶起偏鏡/檢偏鏡插槽,10W可調LED燈室,透、反射通用,預定中心

13

聚光鏡

搖出式消色差聚光鏡(N.A.0.9

14

攝像接口

0.65倍專用攝像接口

15

干涉組件

諾曼爾斯基微分干涉片(選購)

16

顯微鏡工業(yè)相機

高清1200萬顯微相機 2000萬像素或自動對焦相機(選購)

17

圖像處理軟件

拍照,錄像,測量,實時圖像拼接,景深融合等(選購)

18

標尺

高精度型測微尺,格值0.01m 總長1mm(選購)

 

 

 


相關產(chǎn)品

CMY-310透反射三目正置金相顯微鏡
CMY-310透反射三目正置金相顯微鏡
金相分析儀
CMY-50科研級倒置金相顯微鏡
CMY-50科研級倒置金相顯微鏡
金相分析儀
CMY-210Z攝像型三目透反射正置金相顯微鏡
CMY-210Z攝像型三目透反射正置金相顯微鏡
電腦型金相顯微鏡
MDJ系列倒置金相顯微鏡
MDJ系列倒置金相顯微鏡

CMY-50Z攝像型科研級倒置金相顯微鏡
CMY-50Z攝像型科研級倒置金相顯微鏡
電腦型金相顯微鏡
CMY-410Z攝像型大平臺正置檢查顯微鏡
CMY-410Z攝像型大平臺正置檢查顯微鏡



首頁 > 顯微鏡 > 金相顯微鏡 > CM120BD研究級12寸大平臺半導體檢查顯微鏡
頁面執(zhí)行0.091762 秒